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SNOM Test Grating
商品コード:
SNOM

SNOM Test Grating

関連カテゴリ:
AFM/SPM/STM関連 > テストサンプル
SNOM Test Grating
Test grating for scanning near-fild optical microscope

走査型近接場光学顕微鏡テストグレーティング(SNOM)

SNOM Test Grating
形状/特性

基板:石英
基板サイズ:10 x 10 x 0.5 mm
菱形材質:バナジウム
バナジウム層厚:約20 - 30 nm
アクティブエリア:中心径 3 mm配列
金属被膜(菱形)透過係数:< 20%
金属被膜(菱形)反射率:> 40%
菱形R曲率:< 50 nm
型番 品名 数量 価格
SNG01-AB SNOMテストサンプル 1 60,000